PAM-150型α、β表面沾污儀

是對可能被α、β、γ放射性核素污(wu)染的表面進行監測的手(shou)持式測量儀，采用較薄的閃爍體(ti)探(tan)測器，適用于(yu)α、β表面污(wu)染的測量。
廣泛用于(yu)因可(ke)能被污染而必須監(jian)測的(de)場所，例如：核電廠(chang)、再(zai)加工工廠(chang)、退役或(huo)被拆除的(de)核設施(shi)、放射性廢物(wu)(wu)處理廠(chang)、醫院、研究所及各種(zhong)環境中的(de)應用，可(ke)對墻壁、地板、桌子(zi)、手(shou)、腳、衣服或(huo)其他物(wu)(wu)品進行表面污染監(jian)測。
 詳細介紹
    PAM系列(lie)手持式表(biao)(biao)面沾污儀(yi)是對(dui)可能被(bei)α、β、γ放射性核素(su)污染的(de)表(biao)(biao)面進行(xing)監測(ce)的(de)手持式測(ce)量(liang)儀(yi)，采(cai)用(yong)較(jiao)薄(bo)的(de)閃爍體探測(ce)器，適(shi)用(yong)于α、β表(biao)(biao)面污染的(de)測(ce)量(liang)。
廣(guang)泛(fan)用于因可能被污染而必(bi)須監(jian)測的場所，例如：核電廠、再加工(gong)工(gong)廠、退(tui)役(yi)或被拆(chai)除(chu)的核設施、放射(she)性廢物處(chu)理廠、醫院、研(yan)究所及各種環境中的應用，可對墻(qiang)壁、地板、桌子、手、腳(jiao)、衣服或其他物品進行表面污染監(jian)測。
   ; PAM-150輕便小巧，探測面(mian)在(zai)儀(yi)器底部(bu)有(you)金屬格柵保護，顯示屏和(he)操作按(an)鈕(niu)在(zai)儀(yi)器頂部(bu)，儀(yi)器內部(bu)包(bao)括(kuo)塑料閃爍體(ti)，反射體(ti)，光電(dian)倍增(zeng)管和(he)信號處理(li)電(dian)子設備等。
由電(dian)池(chi)(chi)供電(dian)，使(shi)用標準C號(hao)電(dian)池(chi)(chi)，安裝在手(shou)柄(bing)內。設計(ji)簡(jian)單，操(cao)作方便，高(gao)分辨率(lv)顯(xian)示屏可顯(xian)示計(ji)數率(lv)或總計(ji)數（也可根據需要(yao)顯(xian)示柱狀圖）、電(dian)池(chi)(chi)電(dian)量。有背(bei)(bei)景(jing)燈(deng)模式(shi)。普通光線(xian)下可不使(shi)用背(bei)(bei)景(jing)燈(deng)。
主要特點：
非氣(qi)體(ti)探測器、快速(su)更換鋁箔、結構緊湊、重量輕、防震，操作簡單、持續使用(yong)時間長、高靈(ling)敏度(du)、響應好、可設置兩個報警(jing)閾值(zhi)、易去污。
技術參數：
探測器(qi)：閃(shan)爍體(ti)探測器(qi)鍍ZnS（Ag）
體積：10×10（100平方厘米）
探測窗：鍍鋁膜樹脂(zhi)
探測效率（PAM-150）：﹥35%    Am-241、﹥35%   Tl-204、﹥40%   Sr-90+Y-90、﹥30%   Cs-137
探測下限：﹥1.105cps
能(neng)量范圍：49kev-2.5Mev
電(dian)(dian)池：標(biao)準C號(hao)電(dian)(dian)池，堿(jian)性電(dian)(dian)池或可充電(dian)(dian)電(dian)(dian)池
電池壽命：不使(shi)用背景燈條件下長可(ke)使(shi)用約(yue)150小時
重量：約1kg
顯示屏：128×64點(dian)陣(zhen)，面積：60.8mm×33mm
單(dan)位(wei)：cps, cps.cm-2或Bq and Bq.cm-2
說明：
探測(ce)器(qi)采用鍍(du)ZnS（Ag）的大面積塑(su)料(liao)閃爍體(ti)將信(xin)號(hao)耦合(he)到光電倍(bei)增管，探測(ce)窗(chuang)口采用金屬柵格保護的鋁膜，設計合(he)理的反光鏡幾何形狀和表面使得(de)探測(ce)器(qi)探測(ce)效率(lv)高，數據準確(que)。
儀器(qi)計數(shu)會觸發設備內部蜂鳴(ming)器(qi)，可通過相關(guan)(guan)設置關(guan)(guan)閉提示聲。

PAM-150型α、β表面沾污儀